超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究"
- 責任表示
- 研究代表者 谷口研二
- 出版者
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- 大阪大学工学部
- 出版年月
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- 1991.3
- 書籍サイズ
- 26 cm
- タイトル別名
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- チョウビショウ MOS ソシ ノ シンライセイ ト テレグラフ ザツオン ハッセイ キコウ ノ ケンキュウ
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注記
[課題番号]: 01550248
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000797832894720
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- NII書誌ID
- BB23090943
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- 本文言語コード
- ja
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- [吹田]
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- データソース種別
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- CiNii Books
