Semiconductor materials analysis and fabrication process control : proceedings of Symposium D on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Analysis and Fabrication Process Control of the 1992 E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 2-5, 1992

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書誌事項

タイトル
"Semiconductor materials analysis and fabrication process control : proceedings of Symposium D on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Analysis and Fabrication Process Control of the 1992 E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 2-5, 1992"
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edited by G.M. Crean, R. Stuck, and J.A. Woollam
出版者
  • North-Holland
出版年月
  • 1993
書籍サイズ
29 cm

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000798022961152
  • NII書誌ID
    BA20463173
  • ISBN
    0444899081
  • LCCN
    93155906
  • Web Site
    https://lccn.loc.gov/93155906
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    ne
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Amsterdam
  • 分類
  • データソース種別
    • CiNii Books
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