Two- and three-dimensional methods for inspection and metrology III : 24-26 October, 2005, Boston, Massachusetts, USA

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書誌事項

タイトル
"Two- and three-dimensional methods for inspection and metrology III : 24-26 October, 2005, Boston, Massachusetts, USA"
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Kevin G. Harding, chair/editor ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c2005
書籍サイズ
28 cm
シリーズ名/番号
  • pbk.

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注記

Previous conference entitled: Two- and three-dimensional vision systems for inspection, control, and metrology

Includes bibliographical references and author index

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