Testing, reliability, and applications of optoelectronic devices : 24-26 January, 2001, San Jose, [California] USA
書誌事項
- タイトル
- "Testing, reliability, and applications of optoelectronic devices : 24-26 January, 2001, San Jose, [California] USA"
- 責任表示
- Aland K. Chin ... [et al.], chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c2001
- 書籍サイズ
- 28 cm
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注記
Includes bibliographic references and author index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130006728301644295
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- NII書誌ID
- BC07476197
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- ISBN
- 0819439630
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- LCCN
- 2001277958
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/2001277958
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Washington
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- 分類
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- LCC: TK8300
- DC21: 621.3815/2
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- データソース種別
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- CiNii Books