X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析
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書誌事項
- タイトル
- "X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析"
- 責任表示
- edited by K. Sakurai and K. Hirano
- 出版者
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- High Energy Accelerator Research Organization (KEK)
- 出版年月
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- 2002.1
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- Xセン チュウセイシ ハンシャリツホウ ニヨル ハクマク タソウマク ノ コウゾウ カイセキ
- X-ray and neutron reflectivity studies on thin films and multilayers
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注記
表紙: "December 21-22, 2001"
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282268692777088
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- NII書誌ID
- BA56635102
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- Tsukuba
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- データソース種別
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- CiNii Books