SAE residual stress measurement by x-ray diffraction

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書誌事項

タイトル
"SAE residual stress measurement by x-ray diffraction"
出版者
  • SAE International
  • 2003 ed
出版年月
  • c2003
書籍サイズ
28 cm
タイトル別名
  • Residual stress measurement by x-ray diffraction

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130282269592228864
  • NII書誌ID
    BA67224518
  • ISBN
    9780768010695
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Warrendale, Pa.
  • データソース種別
    • CiNii Books
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