脳虚血耐性現象の遺伝子発現からのアプローチ : DC potential計測を虚血負荷の客観的指標とした検討
CiNii
所蔵館 1館
書誌事項
- タイトル
- "脳虚血耐性現象の遺伝子発現からのアプローチ : DC potential計測を虚血負荷の客観的指標とした検討"
- 責任表示
- 阿部博史研究代表
- 出版者
-
- [阿部博史]
- 出版年月
-
- 1999.3
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
-
- ノウ キョケツ タイセイ ゲンショウ ノ イデンシ ハツゲン カラ ノ アプローチ : DC potential ケイソク オ キョケツ フカ ノ キャッカンテキ シヒョウ ト シタ ケントウ
- 平成8年度-平成10年度科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書(課題番号08457359)
この図書・雑誌をさがす
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130282269891290624
-
- NII書誌ID
- BA41440085
-
- 出版国コード
- ja
-
- タイトル言語コード
- ja
-
- 出版地
-
- [新潟]
-
- データソース種別
-
- CiNii Books