書誌事項
- タイトル
- "Hierarchical modeling for VLSI circuit testing"
- 責任表示
- by Debashis Bhattacharya, John P. Hayes
- 出版者
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- Kluwer Academic Publishers
- 出版年月
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- c1990
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
Includes bibliographical references (p. [149]-155)
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282270069587200
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- NII書誌ID
- BA09998982
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- ISBN
- 079239058X
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- LCCN
- 89024726
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/89024726
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Boston
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- 分類
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- LCC: TK7874
- DC20: 621.39/5/0287
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- データソース種別
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- CiNii Books