Symposium on X-ray and electron probe analysis : presented at the Sixty-sixth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Atlantic City, N. J., June 27, 1963

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書誌事項

タイトル
"Symposium on X-ray and electron probe analysis : presented at the Sixty-sixth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Atlantic City, N. J., June 27, 1963"
出版者
  • ASTM
出版年月
  • 1964
書籍サイズ
24 cm

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130282270078581120
  • NII書誌ID
    BA01667686
  • LCCN
    64021661
  • Web Site
    https://lccn.loc.gov/64021661
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Philadelphia
  • データソース種別
    • CiNii Books
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