書誌事項
- タイトル
- "Defect analysis in electron microscopy"
- 責任表示
- M.H. Loretto and R.E. Smallman
- 出版者
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- Chapman and Hall
- 出版年月
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- 1975
- 書籍サイズ
- 24 cm
- シリーズ名/番号
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- cased edition
- Science Paperback edition
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注記
"A Halsted Press book."
Bibliography: p. 131
Includes index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282270343250944
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- NII書誌ID
- BA1401594X
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- ISBN
- 047054760X
- 0412137607
- 0412137704
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- LCCN
- 75025615
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/75025615
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- uk
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- London
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- 件名
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- LCSH: Crystals -- Defects
- LCSH: Electron microscopy
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- データソース種別
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- CiNii Books