Defects in high-κ gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices

Gusev, Evgeni

Defects in high-κ gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices

CiNii 所蔵館 7館

Gusev, Evgeni

書誌事項

タイトル: "Defects in high-κ gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices"

責任表示: edited by Evgeni Gusev

出版者

Springer

出版年月

c2006

書籍サイズ: 25 cm

シリーズ名/番号

: pbk

タイトル別名

Defects in high-k gate dielectric stacks

この図書・雑誌をさがす

注記

"Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Defects in Advanced High-k Dielectric Nano-electronic Semiconductor Devices, St. Petersburg, Russia, July 11-14 2005"--T.p. verso

Includes bibliographical references and indexes

Defects in high-κ gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices

書誌事項

この図書・雑誌をさがす

注記

関連図書・雑誌

詳細情報詳細情報について

書き出し

Defects in high-κ gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices

書誌事項

この図書・雑誌をさがす

注記

関連図書・雑誌

詳細情報 詳細情報について

書き出し

詳細情報詳細情報について