Beam injection assessment of defects in semiconductors : proceedings of the 5th workshop on beam injection assessment of defects in semiconductors held in Parkhotel Schloss Wulkow near Berlin, Germany, August 30-September 3, 1998
CiNii
所蔵館 2館
書誌事項
- タイトル
- "Beam injection assessment of defects in semiconductors : proceedings of the 5th workshop on beam injection assessment of defects in semiconductors held in Parkhotel Schloss Wulkow near Berlin, Germany, August 30-September 3, 1998"
- 責任表示
- editors. M. Kittler, O. Breitenstein, A. Endros and W. Schroter
- 出版者
-
- Scitec Publications Ltd.
- 出版年月
-
- 1998
- 書籍サイズ
- 25 cm
この図書・雑誌をさがす
注記
Volumes 63-64 of Solid State Phenomena, ISSN1012-0394
Includes bibliographies and index
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1130282271572078464
-
- NII書誌ID
- BA46349537
-
- ISBN
- 390845039X
-
- 本文言語コード
- en
-
- 出版国コード
- sz
-
- タイトル言語コード
- en
-
- 出版地
-
- Uetikon-Zuerich
-
- データソース種別
-
- CiNii Books