High resolution electron microscopy of defects in materials : symposium held April 16-18, 1990, San Francisco, California, USA

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書誌事項

タイトル
"High resolution electron microscopy of defects in materials : symposium held April 16-18, 1990, San Francisco, California, USA"
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editors, Robert Sinclair, David J. Smith, Ulrich Dahmen
出版者
  • Materials Research Society
出版年月
  • c1990
書籍サイズ
24 cm

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