Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology II : January 21-22, 1985, Los Angeles, California

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書誌事項

タイトル
"Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology II : January 21-22, 1985, Los Angeles, California"
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Fred H. Pollak, chairman/editor
出版者
  • SPIE -- the International Society for Optical Engineering
出版年月
  • c1985
書籍サイズ
28 cm

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130282271986205568
  • NII書誌ID
    BA23996422
  • ISBN
    0892525592
  • LCCN
    85050424
  • Web Site
    https://lccn.loc.gov/85050424
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Bellingham, Wash.
  • データソース種別
    • CiNii Books
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