Test and measurement applications of optoelectronic devices : 21-22 January 2002, San Jose, USA
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書誌事項
- タイトル
- "Test and measurement applications of optoelectronic devices : 21-22 January 2002, San Jose, USA"
- 責任表示
- Aland K. Chin ... [et al.] chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--The International Society for Optical Engineering
- 出版者
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- SPIE
- 出版年月
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- c2002
- 書籍サイズ
- 28 cm
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130282272895959936
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- NII書誌ID
- BA6213427X
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- ISBN
- 0819443875
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Bellingham, Wash.
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- データソース種別
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- CiNii Books