Fundamentals of surface and thin film analysis

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書誌事項

タイトル
"Fundamentals of surface and thin film analysis"
責任表示
Leonard C. Feldman, James W. Mayer
出版者
  • North-Holland : Elsevier Science Pub.
出版年月
  • c1986
書籍サイズ
24 cm

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注記

Includes bibliographies and index

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130282273067384960
  • NII書誌ID
    BA0028903X
  • ISBN
    0444009892
  • LCCN
    86002479
  • Web Site
    https://lccn.loc.gov/86002479
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • New York
  • 分類
  • データソース種別
    • CiNii Books
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