Wavelet-based defect detection in solar wafer images with inhomogeneous texture

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収録刊行物

Pattern Recognition

Pattern Recognition 45 (2), 742-756, 2012-02

Elsevier BV

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CRID

1360298342843415680
DOI

10.1016/j.patcog.2011.07.025
ISSN

00313203
Web Site

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データソース種別
- Crossref

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