3D knife-edge characterization of two-photon absorption volume in silicon for integrated circuit testing

DOI Web Site 被引用文献1件

収録刊行物

  • Optics Express

    Optics Express 19 (23), 22594-, 2011-10-25

    The Optical Society

被引用文献 (1)*注記

もっと見る

キーワード

詳細情報 詳細情報について

問題の指摘

ページトップへ