Gate sizing: finFETs vs 32nm bulk MOSFETs

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2006 43rd ACM/IEEE Design Automation Conference

2006 43rd ACM/IEEE Design Automation Conference 2006

IEEE

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CRID

1361981471470878336
DOI

10.1109/dac.2006.229286
ISSN

0738100X
データソース種別
- Crossref

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