書誌事項
- タイトル別名
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- Robustness in Nano-Scale Measurement : New Techniques for Scanning Probe Microscopy(<Special Issue>Understanding the Robustness)
- ナノスケール計測におけるロバストネス--走査型プローブ顕微鏡の新技術
- ナノスケール ケイソク ニ オケル ロバストネス ソウサガタ プローブ ケンビキョウ ノ シンギジュツ
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収録刊行物
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- システム/制御/情報
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システム/制御/情報 55 (4), 141-146, 2011
一般社団法人 システム制御情報学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204304485504
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- NII論文ID
- 110008608073
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- NII書誌ID
- AN10062329
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- ISSN
- 24241806
- 09161600
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- NDL書誌ID
- 11037723
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles