書誌事項
- タイトル別名
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- Reliability of Semiconductor Optical Devices
- ヒカリ ハンドウタイ デバイス ノ シンライセイ
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説明
現在実用化されているIII-V族化合物半導体光デバイスの信頼性について述べる.これらデバイスは基本的には総てpn接合デバイスであるため, 電気的バイアスの方向でそれらデバイスを分類し、それぞれ劣化姿態と信頼度について概説した。
収録刊行物
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- 日本信頼性学会誌 信頼性
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日本信頼性学会誌 信頼性 20 (6), 376-384, 1998
日本信頼性学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204452070144
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- NII論文ID
- 110004002919
- 10011772445
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- NII書誌ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL書誌ID
- 4534023
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可