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- 木村 忠正
- 電気通信大学
書誌事項
- タイトル別名
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- Basic Course in Semiconductor Device Reliability(2) : Life Distribution of LSI(Basic Course in Reliability)
- 半導体デバイスの信頼性基礎講座(RCJ故障物理研究委員会編)(2)LSIの寿命分布
- ハンドウタイ デバイス ノ シンライセイ キソ コウザ RCJ コショウ ブツリ ケンキュウ イインカイヘン 2 LSI ノ ジュミョウ ブンプ
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収録刊行物
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- 日本信頼性学会誌 信頼性
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日本信頼性学会誌 信頼性 29 (5), 335-338, 2007
日本信頼性学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204453379072
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- NII論文ID
- 110006367147
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- NII書誌ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL書誌ID
- 8915227
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles