書誌事項
- タイトル別名
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- The Relations between Adhesion and Internal Stress of Electroless Pure Ni Film on Smooth Alumina Substrate
- ヘイカツ アルミナ キバン ト ムデンカイ ジュンNiメッキ マク ノ ミッチャクセイ ト ナイブ オウリョク ト ノ カンケイ
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説明
平滑アルミナ基板と無電解純Niめっき膜の密着性の向上を目指し,基板/膜界面に作用するエネルギ収支の観点から,密着性と内部応力との関係を検討した。そのため,両測定における単位をエネルギ(J/m2)に統一することで理想的な付着エネルギの導出を試みた。その結果,ピールエネルギGpは膜厚依存性がみられ,ピールエネルギGpはいずれの純Niめっきにおいても膜厚が増加するにつれて,低下が見られた。膜厚0.2 μm以上では,柱状晶純Niめっきが最も高い値を示し,平滑アルミナ基板との高い密着性が得られた。理想的な付着エネルギである界面付着エネルギGadはピールエネルギGpと内部歪エネルギGinの和にはならず,さらに,曲げ変形エネルギGbend,弾性変形エネルギGel,破断エネルギGfを考慮する必要がある。柱状晶純Niめっきがナノ結晶純Niめっきと比べて高い密着性が得られた理由として,内部歪エネルギ(内部応力)の極小化による基板/膜界面の空隙発生の抑制および弾性変形エネルギGel,破断エネルギGfの極小化による基板/膜界面近傍の強靭性化によるものと考えられる。
収録刊行物
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- エレクトロニクス実装学会誌
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エレクトロニクス実装学会誌 12 (2), 130-136, 2009
一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204559878144
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- NII論文ID
- 110007122655
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- NII書誌ID
- AA11231565
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BD1MXktFGlsbw%3D
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- ISSN
- 1884121X
- 13439677
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- NDL書誌ID
- 10193483
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- 本文言語コード
- ja
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- 資料種別
- journal article
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可