書誌事項
- タイトル別名
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- RF-SiP Technology of Reflect-meter for RF Testers
- RF テスタヨウ リフレクトメータ ノ SiPカ ギジュツ
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説明
Technologies of the small size reflect-meter constructed in form of RF functional systems in package (SiPs) for RF testers are described. As primary concerns, focusing on the directivity and dynamic range of the reflect-meter performance, we propose the construction and the core circuit topologies to realize a very small reflect-meter SiP that satisfies functions of the vector network analysis for RF testers. The reflect-meter features a very small size of less than 1/50 compared to our conventional hybrid form reflect-meter, and having good performance for RF testers.
収録刊行物
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- 電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌)
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電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌) 133 (3), 450-463, 2013
一般社団法人 電気学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204607935616
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- NII論文ID
- 10031155331
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- NII書誌ID
- AN10065950
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- ISSN
- 13488155
- 03854221
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- NDL書誌ID
- 024347711
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
- OpenAIRE
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可