RFテスタ用リフレクトメータのSiP化技術

  • 君島 正幸
    (株) アドバンテスト ATEユニット開発本部 宇都宮大学大学院工学研究科
  • 中山 喜和
    (株) アドバンテスト ATEユニット開発本部
  • 古神 義則
    宇都宮大学大学院工学研究科

書誌事項

タイトル別名
  • RF-SiP Technology of Reflect-meter for RF Testers
  • RF テスタヨウ リフレクトメータ ノ SiPカ ギジュツ

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抄録

Technologies of the small size reflect-meter constructed in form of RF functional systems in package (SiPs) for RF testers are described. As primary concerns, focusing on the directivity and dynamic range of the reflect-meter performance, we propose the construction and the core circuit topologies to realize a very small reflect-meter SiP that satisfies functions of the vector network analysis for RF testers. The reflect-meter features a very small size of less than 1/50 compared to our conventional hybrid form reflect-meter, and having good performance for RF testers.

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参考文献 (38)*注記

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