酸素K殼イオン化エネルギー領域の軟X線照射によるDNA損傷の収率変化

DOI
  • 菅谷 雄基
    茨城大学大学院　理工学研究科 日本原子力研究開発機構　先端基礎研究センター
  • 椎名 卓也
    茨城大学大学院　理工学研究科 日本原子力研究開発機構　先端基礎研究センター
  • 白石 伊世
    茨城大学大学院　理工学研究科 日本原子力研究開発機構　先端基礎研究センター
  • 藤井 健太郎
    日本原子力研究開発機構　先端基礎研究センター
  • 横谷 明徳
    日本原子力研究開発機構　先端基礎研究センター

書誌事項

タイトル別名
  • Variation in DNA damage induced by monochromatic soft X-rays in the energy region of oxygen K-edge

この論文をさがす

抄録

数keV以下の軟X線は、DNAを構成する元素の内殻電子の励起やイオン化を引き起こすエネルギー領域を含んだ電磁波である。我々は放射光を光源として用い、軟Ｘ線のエネルギーの違いがどのようなDNA損傷の違いをもたらすかについて、その生成過程を含めて研究している。我々は過去に、窒素及び酸素などを元素選択的にK殻イオン化することで、DNA内に選択的に鎖切断あるいは塩基損傷を引き起こせることを報告した。また、昨年の本大会では、酸素のK殻共鳴励起によって生じるDNA損傷について報告した。これらの研究から、酸素のK殻イオン化を引き起こすと、塩基損傷収率が窒素のK殼イオン化の収率と比べ急激に増えることがわかっている。 本研究では、軟X線を照射したDNAに生成される鎖切断や塩基損傷、APサイトを定量し、内殻励起やイオン化が選択的損傷生成に果たす役割を明らかにすることを目的とする。試料にはプラスミドDNA(pUC18)を用い、SPring-8のBL23SUを使用して照射を行った。ピリミジン塩基損傷及びプリン塩基損傷、APサイトの検出は、それぞれNth、Fpg、Nfoの3種類のDNAグリコシレースで処理しSSB(single strand break)に変え、アガロース電気泳動法によって定量した。今回は、酸素のK殼イオン化エネルギー領域について、DNA損傷の収率変化を報告し、それらがDNA損傷の選択的な生成機構に寄与するかについて議論する。

収録刊行物

キーワード

詳細情報 詳細情報について

問題の指摘

ページトップへ