触媒基準エッチング法によるGaNの加工

DOI
  • 村田 順二
    大阪大学 工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
  • 久保田 章亀
    熊本大学 自然科学研究科 機械システム工学部門
  • 八木 圭太
    大阪大学 工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
  • 佐野 泰久
    大阪大学 工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
  • 原 英之
    大阪大学 工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
  • 有馬 健太
    大阪大学 工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
  • 三村 秀和
    大阪大学 工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
  • 山内 和人
    大阪大学 工学研究科 精密科学・応用物理学専攻

書誌事項

タイトル別名
  • Catalyst-Referred Etching of GaN

抄録

GaNは直接遷移型のワイドギャップ半導体であり、その優れた物性値から発光デバイスだけではなく、高周波・高出力電子デバイスへの応用も期待されている。しかし、GaNは熱的・化学的に安定であるため、その加工は困難である。我々はこれまでにSiCの平坦化加工として触媒基準化学エッチング法の提案を行っているが、本研究ではフェントン反応により生成したOHラジカルを用いGaNの平坦化加工への応用を行った。

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205652120320
  • NII論文ID
    130004658208
  • DOI
    10.11522/pscjspe.2006a.0.533.0
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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