書誌事項
- タイトル別名
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- SiGe-mixing-triggered rapid-melting growth for Ge-on-insulator formation―A road to artificial crystal―
- SiGe ミキシング ユウキ ヨウユウ セイチョウ ニ ヨル GOI(Ge on Insulator)ノ ケイセイ : ジンコウタンケッショウ エ ノ ミチ
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抄録
<p>Si集積回路のポスト・スケーリング技術として高品質GOI(Ge on Insulator)構造の形成技術が注目を集めている.固化温度の勾配空間をSi -Geミキシングで作り出し,Ge成長を自己組織的に起動する新しい溶融成長法を紹介する.cmに至る巨大単結晶Geや網目状Geが絶縁膜上に実現した.Siマイクロシード技術との重畳で,Si(100)基板上へのGe(111)混載も可能となった.人工単結晶の創成に拍車を掛ける結果と考えられる.</p>
収録刊行物
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- 応用物理
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応用物理 81 (5), 410-414, 2012-05-10
公益社団法人 応用物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001277357329152
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- NII論文ID
- 10030594723
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- NII書誌ID
- AN00026679
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- ISSN
- 21882290
- 03698009
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- NDL書誌ID
- 023759978
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可