CNT薄膜の熱電性能解析手法の開発及び半導体純度・配向性依存性への応用

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タイトル別名
  • Development of analysis method for thermoelectric performance of CNT thin films and its application to semiconductor purity and alignment dependence

抄録

<p>カーボンナノチューブ（CNT）薄膜の熱電性能を解析する手法として、ランダムスティックネットワークモデルと電気・熱回路網解析を組み合わせた手法を開発した。この手法を用いて半導体純度や配向性の異なるCNT薄膜の解析を行った結果、実験結果の特徴をよく捉えただけでなく、半導体純度依存性におけるゼーベック係数の挙動や、配向膜での電気伝導率の異方性とゼーベック係数の等方性の原因を理論的に明らかにした。</p>

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390009018100176768
  • NII論文ID
    130008134148
  • DOI
    10.14886/jvss.2021.0_2p23s
  • ISSN
    24348589
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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