Improvement of Coherent Diffraction XAFS Imaging Method and its Application for Studies of Chemical States Distribution in Catalyst Particle
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- Nitta Kiyofumi
- Japan Synchrotron Radiation Research Institute
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- Sekizawa Oki
- Japan Synchrotron Radiation Research Institute
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- Ishiguro Nozomu
- Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University
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- Suzuki Motohiro
- Faculty of Engineering, Kwansei Gakuin University
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- Kawamura Naomi
- Japan Synchrotron Radiation Research Institute
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- Mizumaki Masaichiro
- Japan Synchrotron Radiation Research Institute
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- Tada Mizuki
- Research Center for Materials Science, Nagoya University
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- Uruga Tomoya
- Japan Synchrotron Radiation Research Institute
Bibliographic Information
- Other Title
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- コヒーレント回折 XAFS 計測法の高度化および実触媒粒子内の電子状態分布解析への応用
Abstract
Kirkpatrick-Baez（KB）ミラーや Fresnel zone plate（FZP）等のＸ線光学素子を用いた走査型および結像型 XAFS イメージング法による空間分解能は、Ｘ線光学素子の集光性能あるいは結像性能により 30 nm 程度に留まっている。我々は、より高い空間分解能をもつ XAFS イメージング計測法として、コヒーレント回折イメージング法を応用したコヒーレント回折 XAFS 計測法の開発に取り組んでいる。本課題では、2013B 期のビームタイムで明らかになった問題点を改良し、触媒単粒子試料に対するコヒーレント回折 XAFS 計測を試みた。本報告では計測で得られた結果、課題と今後の計画について報告する。
Journal
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- SPring-8/SACLA Research Report
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SPring-8/SACLA Research Report 10 (4), 339-341, 2022-08-31
Japan Synchrotron Radiation Research Institute
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390011782480779392
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- ISSN
- 21876886
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
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- Abstract License Flag
- Disallowed