コヒーレント回折 XAFS 計測法の高度化および実触媒粒子内の電子状態分布解析への応用
書誌事項
- タイトル別名
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- Improvement of Coherent Diffraction XAFS Imaging Method and its Application for Studies of Chemical States Distribution in Catalyst Particle
説明
Kirkpatrick-Baez(KB)ミラーや Fresnel zone plate(FZP)等のX線光学素子を用いた走査型および結像型 XAFS イメージング法による空間分解能は、X線光学素子の集光性能あるいは結像性能により 30 nm 程度に留まっている。我々は、より高い空間分解能をもつ XAFS イメージング計測法として、コヒーレント回折イメージング法を応用したコヒーレント回折 XAFS 計測法の開発に取り組んでいる。本課題では、2013B 期のビームタイムで明らかになった問題点を改良し、触媒単粒子試料に対するコヒーレント回折 XAFS 計測を試みた。本報告では計測で得られた結果、課題と今後の計画について報告する。
収録刊行物
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- SPring-8/SACLA利用研究成果集
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SPring-8/SACLA利用研究成果集 10 (4), 339-341, 2022-08-31
公益財団法人 高輝度光科学研究センター
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390011782480779392
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- ISSN
- 21876886
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可