コヒーレント回折 XAFS 計測法の高度化および実触媒粒子内の電子状態分布解析への応用

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タイトル別名
  • Improvement of Coherent Diffraction XAFS Imaging Method and its Application for Studies of Chemical States Distribution in Catalyst Particle

抄録

Kirkpatrick-Baez(KB)ミラーや Fresnel zone plate(FZP)等のX線光学素子を用いた走査型および結像型 XAFS イメージング法による空間分解能は、X線光学素子の集光性能あるいは結像性能により 30 nm 程度に留まっている。我々は、より高い空間分解能をもつ XAFS イメージング計測法として、コヒーレント回折イメージング法を応用したコヒーレント回折 XAFS 計測法の開発に取り組んでいる。本課題では、2013B 期のビームタイムで明らかになった問題点を改良し、触媒単粒子試料に対するコヒーレント回折 XAFS 計測を試みた。本報告では計測で得られた結果、課題と今後の計画について報告する。

収録刊行物

詳細情報

  • CRID
    1390011782480779392
  • DOI
    10.18957/rr.10.4.339
  • ISSN
    21876886
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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