蛍光X線分析装置による確度の高いスクリーニング法の開発
書誌事項
- タイトル別名
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- Development of Highly Reliable Screening by Using X-Ray Fluorescence Spectrometry
- -Applications to Determine Lead in Tin Plated and Tin-Bismuth Plated Samples-
- ―すずめっき及びすず－ビスマスめっき中の鉛定量への応用―
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説明
<p>すずめっき及びすず－ビスマスめっき層中鉛を確度高くスクリーニングするための管理方法を開発した．線径やビスマス及び鉛の濃度が異なるすずめっき線を作製し，ICP発光分光法でめっき層中の鉛濃度を決定した．これらの管理用の標準試料を用いて波長分散型蛍光X線分析装置で評価した結果，130～2070 μg/gの範囲で直線性のよい検量線が得られた．形状を補正するためにPb-Lαの強度をSn-Kαの強度で規格化することでさらに直線性のよい検量線が得られた．また，この方法を用いるとめっき線1本でも確度の高いスクリーニングが可能であった．一方，エネルギー分散型蛍光X線分析装置で評価した結果，すずめっき線では直線関係のよい検量線が得られたが，すず－ビスマスめっき線では，Pb-LαとBi-Lαは重なっており，鉛濃度との相関が得られなかった．ビスマスの影響を小さくするためには，Pb-LαとBi-Lαをフィッティングによってピークを分離することが有効であった．</p>
収録刊行物
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- Ｘ線分析の進歩
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Ｘ線分析の進歩 40 (0), 137-144, 2009-03-31
公益社団法人 日本分析化学会 X線分析研究懇談会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390020444395844608
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- ISSN
- 27583651
- 09117806
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用可
