Effects of Supercritical Carbon Dioxide on Adhesive Strength of Microsized Photoresist Patterns in Photolithography
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- ISHIYAMA Chiemi
- Precision & Intelligence Laboratory, Tokyo Institute of Technology
Bibliographic Information
- Other Title
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- 超臨界流体と表面処理技術 超臨界二酸化炭素処理技術のフォトリソグラフィへの応用と微小レジストパターンの密着強度への影響
- 超臨界二酸化炭素処理技術のフォトリソグラフィへの応用と微小レジストパターンの密着強度への影響
- チョウリンカイ ニサンカ タンソ ショリ ギジュツ ノ フォトリソグラフィ エ ノ オウヨウ ト ビショウ レジストパターン ノ ミッチャク キョウド エ ノ エイキョウ
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Journal
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- Journal of The Surface Finishing Society of Japan
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Journal of The Surface Finishing Society of Japan 61 (8), 571-577, 2010
The Surface Finishing Society of Japan
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679094976128
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- NII Article ID
- 10026542580
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- NII Book ID
- AN1005202X
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BC3cXht12msb3E
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- ISSN
- 18843409
- 09151869
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- NDL BIB ID
- 10804323
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles