デジタルアシスト・アナログテスト技術 : ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)

  • 小林 春夫
    群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻
  • 山口 隆弘
    群馬大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

書誌事項

タイトル別名
  • Digitally-Assisted Analog Test Technology : Analog Circuit Test Technology in Nano-CMOS Era
  • 招待講演 デジタルアシスト・アナログテスト技術--ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術
  • ショウタイ コウエン デジタルアシスト アナログテスト ギジュツ ナノ CMOS ジダイ ノ アナログ カイロ テスト ギジュツ

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抄録

この論文ではミックストシグナルSoCのアナログ部のテストに関して現状と問題点を示し,次の2つの内容について考察する.(i)デジタル自己校正やデジタル誤差補正を用いてアナログRF回路を高性能化するデジタルアシストアナログ技術が微細CMOSを用いたSoC内で多用されつつある.この製造出荷時テスト法に関する考察を行う.(ii)微細CMOS SoC内ではDSPコア,メモリ等の豊富なデジタル回路を有する場合が多い.これらを利用してSoC内アナログRF回路のテストを容易化する技術について考察する.

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