書誌事項
- タイトル別名
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- Digitally-Assisted Analog Test Technology : Analog Circuit Test Technology in Nano-CMOS Era
- 招待講演 デジタルアシスト・アナログテスト技術--ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術
- ショウタイ コウエン デジタルアシスト アナログテスト ギジュツ ナノ CMOS ジダイ ノ アナログ カイロ テスト ギジュツ
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抄録
この論文ではミックストシグナルSoCのアナログ部のテストに関して現状と問題点を示し,次の2つの内容について考察する.(i)デジタル自己校正やデジタル誤差補正を用いてアナログRF回路を高性能化するデジタルアシストアナログ技術が微細CMOSを用いたSoC内で多用されつつある.この製造出荷時テスト法に関する考察を行う.(ii)微細CMOS SoC内ではDSPコア,メモリ等の豊富なデジタル回路を有する場合が多い.これらを利用してSoC内アナログRF回路のテストを容易化する技術について考察する.
収録刊行物
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- 映像情報メディア学会技術報告
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映像情報メディア学会技術報告 34.29 (0), 37-42, 2010
一般社団法人 映像情報メディア学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679503036672
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- NII論文ID
- 110007701338
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- NII書誌ID
- AN1059086X
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- ISSN
- 24241970
- 13426893
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- NDL書誌ID
- 10810446
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可