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- 中村 芳行
- ルネサスセミコンダクタ パッケージ＆テストソリューションズ株式会社技術統括部テスト技術部
書誌事項
- タイトル別名
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- Evolution of Testing Techniques of Semiconductor Industry by Utilization of Big Test Data
- テスト ノ ビッグデータ カツヨウ ニ ヨル ハンドウタイギョウカイ ノ ケンサ ギジュツ ノ シンカ
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収録刊行物
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- エレクトロニクス実装学会誌
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エレクトロニクス実装学会誌 19 (3), 151-157, 2016
一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679537112960
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- NII論文ID
- 130005254511
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- NII書誌ID
- AA11231565
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- ISSN
- 1884121X
- 13439677
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- NDL書誌ID
- 027561075
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles