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- 佐久田 茂
- (株)東芝生産技術研究所
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- ヨセフ=トーミ カマル
- MIT Laboratory for Manufacturing and Productivity
書誌事項
- タイトル別名
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- Angle Sensor with STM. (2nd Report). Atom Tracking and Yaw Measurement.
- STM オ モチイタ チョウ セイミツ カクド センサ ダイ 2ホウ ゲンシ
- -Atom Tracking and Yaw Measurement-
- -原子頂点の追跡とヨーイング測定-
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抄録
In the previous report, the authors proposed a new type of angle sensor with three tracking STM tips, which offers a real-time measurement of pitch, roll and yaw with nano-radian resolution. The purpose of this paper is to describe an atom tracking to measure yaw. The fundamental experiment, in which one tip tracks an atom peak of graphite, shows that the tip searches the atom peak by tip rotation with the radius of less than 0.1 nm. Yaw is measured with nano-radian resolution by having the tip track the atom peak.
収録刊行物
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- 精密工学会誌
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精密工学会誌 63 (6), 807-811, 1997
公益社団法人 精密工学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679742527488
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- NII論文ID
- 110001367839
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- NII書誌ID
- AN1003250X
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- ISSN
- 1882675X
- 09120289
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- NDL書誌ID
- 4227400
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可