X線非平行モノクロメータ法によるエピタキシャル膜の格子変形の測定 : 結晶評価

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• CRID

  1390282680874329216

• NII論文ID

  110002716127

• DOI

  10.19009/jjacg.5.3_53

• ISSN

  21878366

  03856275

• 本文言語コード

  ja

• データソース種別

  • JaLC
  • CiNii Articles