X線干渉計を用いたZ<sub>eff</sub>イメージング法の開発

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タイトル別名
  • Development of Z<sub>eff</sub> Imaging Using X-ray Interferometer
  • X線干渉計を用いたZeffイメージング法の開発
  • Xセン カンショウケイ オ モチイタ Zeff イメージングホウ ノ カイハツ

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抄録

<p>結晶X線干渉計を用いて，被写体の平均的な原子番号（実効原子番号：effective atomic number, Zeff）を可視化するZeffイメージング法を新たに開発した．単色放射光を用いてアルミ，鉄，ニッケル，及び銅の各箔を対象とした試用観察を行った結果，各金属の原子番号に対応した濃淡を示す像の取得に成功した．また，ニッケル及び銅のZeff値は誤差5％以内で各原子番号と一致した．</p>

収録刊行物

  • 顕微鏡

    顕微鏡 50 (1), 67-70, 2015-04-30

    公益社団法人 日本顕微鏡学会

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