Defect control of Y<sub>2</sub>O<sub>3</sub>-based SiGe MOS interfaces properties
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- 李 宗恩
- 東京大学
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- トープラサートポン カシディット
- 東京大学
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- 竹中 充
- 東京大学
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- 高木 信一
- 東京大学
収録刊行物
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- 応用物理学会学術講演会講演予稿集
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応用物理学会学術講演会講演予稿集 2021.1 (0), 2276-2276, 2021-02-26
公益社団法人 応用物理学会