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三フッ化塩素ガスによるエッチング後の4H-SiCウエハ表面形態
DOI
奥山 将吾
横国大院工
羽深 等
横国大院工
高橋 至直
関東電化
加藤 智久
産総研
書誌事項
タイトル別名
Surface morphology of 4H - SiC wafer after etching using ClF<sub>3</sub> gas
収録刊行物
応用物理学会学術講演会講演予稿集
応用物理学会学術講演会講演予稿集 2017.2 (0), 3516-3516, 2017-08-25
公益社団法人 応用物理学会
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キーワード
7a-A201-3
結晶工学
IV族系化合物(SiC)
プロセス
炭化珪素
三フッ化塩素
エッチング
詳細情報
詳細情報について
CRID
1390293943110528000
DOI
10.11470/jsapmeeting.2017.2.0_3516
ISSN
24367613
本文言語コード
ja
データソース種別
JaLC
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