GaN/AlN共鳴トンネルダイオードで生じる双安定性の劣化メカニズム
書誌事項
- タイトル別名
-
- Degradation Mechanism of Bistability Characteristics of GaN/AlN Resonant Tunneling Diodes
収録刊行物
-
- 応用物理学会学術講演会講演予稿集
-
応用物理学会学術講演会講演予稿集 2015.1 (0), 3053-3053, 2015-02-26
公益社団法人 応用物理学会