数層h-BNの散乱型走査近接場光学顕微鏡によるナノスケール層数評価
書誌事項
- タイトル別名
-
- Nanoscale evaluation for the number of layers of few-layer hexagonal boron nitride with scattering-type scanning near-field optical microscopy
収録刊行物
-
- 応用物理学会学術講演会講演予稿集
-
応用物理学会学術講演会講演予稿集 2020.2 (0), 2306-2306, 2020-08-26
公益社団法人 応用物理学会