走査型非線形誘電率顕微鏡による機械剥離WSe<sub>2</sub>/SiO<sub>2</sub>と架橋型WSe<sub>2</sub>のキャリア分布の観察
書誌事項
- タイトル別名
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- Carrier distribution imaging of mechanically exfoliated WSe<sub>2</sub>/SiO<sub>2</sub> and suspended WSe<sub>2 </sub>using scanning nonlinear dielectric microscopy
収録刊行物
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- 応用物理学会学術講演会講演予稿集
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応用物理学会学術講演会講演予稿集 2020.1 (0), 3477-3477, 2020-02-28
公益社団法人 応用物理学会