Effect of Prebaking Temperature on Structure and Ferroelectric Properties of PZT Thin Films Prepared by Sol-Gel Method
Bibliographic Information
- Other Title
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- ゾルゲル法によるPZT薄膜の構造および強誘電体特性に及ぼす仮焼成温度の効果
- ゾルゲルホウ ニヨル PZT ハクマク ノ コウゾウ オヨビ キョウユウデンタ
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Abstract
資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
Journal
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- Denki Kagaku oyobi Kogyo Butsuri Kagaku
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Denki Kagaku oyobi Kogyo Butsuri Kagaku 64 (11), 1166-1173, 1996-11-05
The Electrochemical Society of Japan
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390845702279839360
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- NII Article ID
- 10001826360
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- NII Book ID
- AN00151637
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- ISSN
- 13443542
- 24342556
- 03669297
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- NDL BIB ID
- 4068018
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
