BAST: BIST Aided Scan Test--テストコスト削減のための新しい手法

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  • BAST BIST Aided Scan Test テストコスト サクゲン ノ タメ ノ アタラシイ シュホウ
  • LSIのテスト・診断技術論文小特集
  • LSI ノ テスト シンダン ギジュツ ロンブン ショウトクシュウ

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