Multi-probe atomic force microscopy with optical beam deflection method
書誌事項
- タイトル別名
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- Multi probe atomic force microscopy with optical beam deflection method
- Special issue: Scanning probe microscopy
- Special issue Scanning probe microscopy
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説明
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌
収録刊行物
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- Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP
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Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP 46 (8B), 5636-5638, 2007-08
Tokyo : Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290882185602304
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- NII論文ID
- 40015552307
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- NII書誌ID
- AA10457675
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- ISSN
- 00214922
- 13474065
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- NDL書誌ID
- 8877851
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- 本文言語コード
- en
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- NDL 雑誌分類
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN
- OpenAIRE