Synergy effect of particle radiation and ultraviolet radiation from capacitively coupled radio frequency argon plasmas on n-GaN etching damage
書誌事項
- タイトル別名
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- Synergy effect of particle radiation and ultraviolet radiation from capacitively coupled radio frequency argon plasmas on n GaN etching damage
- Special issue: Dry process
- Special issue Dry process
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説明
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌
収録刊行物
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- Japanese journal of applied physics : JJAP
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Japanese journal of applied physics : JJAP 47 (8), 6863-6866, 2008-08
Tokyo : The Japan Society of Applied Physics
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290883951543808
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- NII論文ID
- 40016211119
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- NII書誌ID
- AA12295836
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- ISSN
- 00214922
- 13474065
- http://id.crossref.org/issn/13474065
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- NDL書誌ID
- 9622028
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- 本文言語コード
- en
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- NDL 雑誌分類
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles