Inteface Trap Generation Induced by Charge Pumping Current under Dynamic Oxide Field Stresses
書誌事項
- タイトル別名
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- ダイナミック酸化膜電界ストレス下でのチャージポンピング電流に起因する界面トラップ形成
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 105 (109), 17-22, 2005-06-10
東京 : 電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520572358715231872
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- NII論文ID
- 10016574299
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL書誌ID
- 7367750
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- 本文言語コード
- en
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
