Chemical Structure Changes in TOPO Capped CdSe Nanocrystals Thin Films by Comparable ToF-SIMS and XPS Study
書誌事項
- タイトル別名
-
- Chemical Structure Changes in TOPO Capped CdSe Nanocrystals Thin Films by Comparable ToF SIMS and XPS Study
この論文をさがす
収録刊行物
-
- Journal of surface analysis / 表面分析研究会 編
-
Journal of surface analysis / 表面分析研究会 編 11 (2), 62-70, 2004-07
東京 : 表面分析研究会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1520573329988168704
-
- NII論文ID
- 40006381100
-
- NII書誌ID
- AA11448771
-
- ISSN
- 13411756
-
- NDL書誌ID
- 7063896
-
- 本文言語コード
- en
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZM35(科学技術--物理学)
-
- データソース種別
-
- NDLサーチ
- CiNii Articles