Test generation for multiple fault diagnosis in one-dimensional iterative logic arrays
Bibliographic Information
- Other Title
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- Test generation for multiple fault diag
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Description
記事分類: 電気工学--電子工学--電子回路
Journal
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- 愛媛大学工学部紀要 / 愛媛大学工学部 編
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愛媛大学工学部紀要 / 愛媛大学工学部 編 12 (4), p501-512, 1993-02
松山 : 愛媛大学工学部
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853835134182528
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- NII Article ID
- 40004431365
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- NII Book ID
- AN00024855
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- ISSN
- 02856107
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- NDL BIB ID
- 3824128
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZM2(科学技術--科学技術一般--大学・研究所・学会紀要)
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- Data Source
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- NDL Search
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