Test generation for multiple fault diagnosis in one-dimensional iterative logic arrays
書誌事項
- タイトル別名
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- Test generation for multiple fault diag
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説明
記事分類: 電気工学--電子工学--電子回路
収録刊行物
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- 愛媛大学工学部紀要 / 愛媛大学工学部 編
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愛媛大学工学部紀要 / 愛媛大学工学部 編 12 (4), p501-512, 1993-02
松山 : 愛媛大学工学部
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853835134182528
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- NII論文ID
- 40004431365
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- NII書誌ID
- AN00024855
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- ISSN
- 02856107
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- NDL書誌ID
- 3824128
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM2(科学技術--科学技術一般--大学・研究所・学会紀要)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- CiNii Articles
